杭州广立微电子股份有限公司 2024年年度报告摘要 2025-04-21

  证券代码:301095                   证券简称:广立微                             公告编号:2025-015

  

  一、重要提示

  本年度报告摘要来自年度报告全文,为全面了解本公司的经营成果、财务状况及未来发展规划,投资者应当到证监会指定媒体仔细阅读年度报告全文。

  所有董事均已出席了审议本报告的董事会会议。

  天健会计师事务所(特殊普通合伙)对本年度公司财务报告的审计意见为:标准的无保留意见。

  本报告期会计师事务所变更情况:公司本年度会计师事务所由变更为天健会计师事务所(特殊普通合伙)。

  非标准审计意见提示

  □适用 R不适用

  公司上市时未盈利且目前未实现盈利

  □适用 R不适用

  董事会审议的报告期利润分配预案或公积金转增股本预案

  R适用 □不适用

  公司经本次董事会审议通过的利润分配预案为:以197,062,569为基数,向全体股东每10股派发现金红利2.5元(含税),送红股0股(含税),以资本公积金向全体股东每10股转增0股。

  董事会决议通过的本报告期优先股利润分配预案

  □适用 □不适用

  二、公司基本情况

  1、公司简介

  

  2、报告期主要业务或产品简介

  (一)公司主营业务情况

  公司是领先的集成电路EDA软件与晶圆级电性测试设备供应商,公司专注于芯片成品率提升和电性测试快速监控技术,是国内外多家大型集成电路制造与设计企业的重要合作伙伴。公司提供EDA软件、电路IP、WAT测试设备以及与芯片成品率提升技术相结合的全流程解决方案,在集成电路从设计到量产的整个产品周期内实现芯片性能、成品率、稳定性的提升。公司先进的解决方案已成功应用于诸多集成电路工艺技术节点,实现了高质量的国产化替代,打破了集成电路成品率提升领域长期被国外产品垄断的局面。

  集成电路成品率提升是一项非常复杂的系统工程,公司长期以来潜心研发,不断丰富以集成电路成品率提升为主轴的产品矩阵,逐渐形成了驱动公司业绩可持续发展的“三驾马车”——电子设计自动化(EDA)软件、半导体大数据分析与管理系统、晶圆级电性测试设备。各产品在技术上相辅相成,在商业模式上独立销售、相互引流,为公司业务的稳健发展提供多点引擎,支撑营业收入连创新高,丰富客户数量及客户群体,客户范围从以集成电路制造企业为主逐步向集成电路设计、封测企业拓展。

  驱动公司业绩可持续发展的“三驾马车”

  (二)公司主要产品及服务布局

  公司的产品类型分为电子设计自动化(EDA)软件、半导体大数据分析与管理系统、晶圆级电性测试设备,以及利用上述软硬件工具和在成品率提升领域的经验提供的软件技术开发服务。

  1、电子设计自动化(EDA)软件

  (1)集成电路良率提升相关设计软件

  为了确定最优的制造工艺或寻找影响成品率的因素,需要对各种电学结构和关键器件进行电学性能的检测,提供寻找影响成品率因素的有效线索。由于产品芯片结构过于复杂,在产品芯片上直接进行电性测试难以分解发现产生问题的根本原因,因此一般效率不高。为了降低制造成本、提升效率,业内通常采用测试芯片替代产品芯片进行电性测试,测试芯片即支持电学性能测试功能的专用芯片。主要方法如下:针对影响产品芯片成品率和性能的关键器件参数以及工艺中各步骤的失效风险,设计出监控相应器件和风险的测试结构,与焊盘相连接组成专用的测试芯片。测试芯片与产品芯片使用相同的工艺,甚至可能集成在同一片晶圆上,测试芯片的电性测试结果,可以反映产品芯片中关键器件的特性,以及制造工艺的风险状况。相比产品芯片,由于测试芯片将工艺成品率风险拆解到各自独立的结构中,能够直接找到需要改进的风险点。采用测试芯片技术,是业内进行工艺开发、成品率提升的主要方法,公司的集成电路良率提升设计软件主要为测试芯片设计EDA软件。

  集成电路良率提升相关EDA软件及电路IP

  2024年度,公司不断对现有良率提升相关EDA功能进行优化完善,还研发了多种适合新工艺方向的电路IP和解决方案,如公司Advanced PCM量产监控方案已在大客户处稳步推进验证,SRAM 读写功能良率提升方案、适配新工艺的高密度电阻/漏电方案以及片上监控电路设计方案研发均取得突破性进展。

  

  (2)可制造性设计(DFM)EDA软件

  可制造性设计(DFM)是研发和生产之间的桥梁,在芯片开发设计阶段就考虑到制造环节的可行性,有效地缩短开发进程,降低制造成本,提升产品的可靠性与稳定性。报告期内,公司DFM软件工具核心模块研发均取得重要进展。

  

  

  可制造性设计(DFM)软件产品图

  (3)可测试性(DFT)EDA软件

  随着半导体工艺制程的发展,芯片在生产过程产生缺陷的概率越来越大,而芯片出厂对DPPM(百万分比的缺陷率)有着苛刻的要求,如汽车类芯片要求DPPM几乎为0,品质越高且规模越大的芯片,DFT越复杂且越重要。DFT是一种在芯片原始设计阶段即插入各种用于芯片测试的硬件逻辑的设计方法,这些硬件逻辑有助于生成测试向量并在自动测试设备(ATE)上进行高效的芯片测试,捕捉潜在的硬件缺陷,提高产品良率。DFT一方面可以筛选淘汰掉有缺陷的芯片,另一方面可以在设计阶段考虑测试需求,减少测试时所需的硬件资源和测试时间,使测试流程更加自动化和高效,从而实现降本增效的目的。

  2023年公司收购了上海亿瑞芯电子科技有限公司43%的股权,亿瑞芯是一家以DFT技术服务及产品开发为主营业务的企业,该股权收购标志着公司从专注制造类EDA向设计类EDA扩展迈出了第一步。同年11月,公司与亿瑞芯联合发布了业界领先的可测性设计自动化和良率诊断解决方案——DFTEXP流程和解决方案。 2024年,公司DFTEXP解决方案已在多家客户处应用并实现销售收入,产品部分技术表现达标杆工具水平,获得良好的行业口碑。

  广立微×亿瑞芯 DFT设计自动化和良率诊断解决方案

  报告期内,研发完成的DFT系列软件主要如下:

  

  2、半导体大数据分析与管理系统

  随着集成电路集成度的提高和工艺节点的演进,芯片从设计、制造到封装测试各环节数据规模快速增大,使得端到端全产业链的数据分析显得尤为关键,如何关联整合该等数据,并从中挖掘出真正的价值,从而实现加快产品开发、成品率提升以及量产管理,成为了行业面临的重要挑战。

  半导体大数据分析与管理系统应用场景

  广立微DATAEXP系列软件能够覆盖集成电路芯片产品设计与制造全生命周期数据管理和分析,如测试芯片分析、成品率分析、产线数据管理分析、缺陷管理分析、车规标准管控、制造过程数据分析等,运用了人工智能和机器学习等先进计算机技术,能够对海量数据进行高效的关联解析,快速准确地识别定位良率问题,从而帮助用户及时采取措施,提前应对潜在风险,加速良率提升,保障产品良率的稳定性。同时,DATAEXP系列产品还能够与公司的EDA产品、WAT测试设备之间相互赋能,提供完整先进的良率提升解决方案。 半导体大数据分析与管理系统产品图

  2024年,公司半导体人工智能应用平台INF-AI正式发布,且已被多家客户引入使用,以AI赋能设计与制造;SemiMind半导体大模型平台正式推出,融合知识库和智能体技术,促进知识沉淀复用,降低用户使用门槛,大幅提升研发效率;半导体离线大数据分析系统已完整布局并持续迭代升级,技术达国际领先水平,DE-YMS、DE-DMS等产品取得规模订单;半导体在线大数据分析系统研发稳步推进,已在晶圆厂量产线试运行,助力集成电路实现高质量的智能制造;半导体通用数据分析软件DE-G功能逐步打磨成熟,成功替代国际通用统计分析软件,应用客群规模显著提升。

  

  3、晶圆级电性测试设备

  公司以集成电路先进制程研发和量产过程中对于高效率高精度的电性检测需求为突破口,经过多年的研发积累和产品迭代,自主研发出能够应用于芯片制造的工艺开发和量产线的晶圆级WAT电性测试设备。该设备自2020年开始实现稳定量产后,已成功进入多家海内外领先的芯片设计类企业、代工制造类企业、垂直整合制造类企业和研发实验室。为满足不同晶圆厂对设备功能和性价比的需求,公司又优化升级并推出了新一代通用型高性能半导体参数测试机(T4000型号)、搭载自研高性能矩阵开关构架的半导体参数测试机(T4000 Max),并协同开发了可靠性测试分析系统(Wafer Level Reliability,WLR)等功能,将设备从WAT测试扩展至WLR及SPICE等领域。公司测试设备类产品包含:

  

  

  

  广立微晶圆级电性测试设备样机(搭配探针台)

  4、软件开发技术服务

  (1)集成电路良率提升技术服务

  一般集成电路工艺的生命周期大致包括早期开发、产品导入和量产环节,集成电路制造企业在每个环节不仅需要提升各工艺步骤及产品的成品率,完成PDK的建立、验证和产品性能的持续优化,同时还要保证产品的可靠性和制造过程的稳定性。公司的成品率提升技术服务可以针对工艺开发及量产每个阶段的任务、要求和侧重点,设计定制化的测试芯片、测试并分析反馈,保证客户能够在开发项目全流程中,有针对性的解决问题,协助客户快速完成工艺开发和尽早进入量产阶段,并能够在量产阶段进行高效的生产过程监控,保障成品率与产品品质。 2024年公司中标国内外多家客户良率提升项目,良率提升技术服务在多客户、多节点铺开,能力和潜力得到客户认可。

  公司的成品率提升技术服务包括技术开发服务和测试服务两大类:

  ① 技术开发服务:利用公司软硬件一体化的产品解决方案,以及人员的开发经验,为晶圆厂提供从测试芯片设计、电性数据测试到整体数据分析的一站式服务;

  ② 测试服务:利用公司的晶圆级测试设备对客户的测试芯片或晶圆测试结构进行测试,并提供相应的分析服务。

  集成电路良率提升开发服务流程示意图

  (2)可测试性(DFT)设计技术服务

  DFT设计技术服务会根据具体芯片的具体特点,利用公司自研的DFT设计工具为客户提供从DFT架构定义、DFT设计实现到量产支持全流程DFT设计服务,并且在芯片量产阶段提供DFT量产支持,以帮助客户缩短设计周期,降低设计风险,提高芯片量产良率。

  一站式DFT设计流程示意图

  3、主要会计数据和财务指标

  (1) 近三年主要会计数据和财务指标

  公司是否需追溯调整或重述以前年度会计数据

  □是 R否

  元

  

  (2) 分季度主要会计数据

  单位:元

  

  上述财务指标或其加总数是否与公司已披露季度报告、半年度报告相关财务指标存在重大差异

  □是 R否

  4、股本及股东情况

  (1) 普通股股东和表决权恢复的优先股股东数量及前10名股东持股情况表

  单位:股

  

  持股5%以上股东、前10名股东及前10名无限售流通股股东参与转融通业务出借股份情况

  □适用 R不适用

  前10名股东及前10名无限售流通股股东因转融通出借/归还原因导致较上期发生变化

  □适用 R不适用

  公司是否具有表决权差异安排

  □适用 R不适用

  (2) 公司优先股股东总数及前10名优先股股东持股情况表

  公司报告期无优先股股东持股情况。

  (3) 以方框图形式披露公司与实际控制人之间的产权及控制关系

  5、在年度报告批准报出日存续的债券情况

  □适用 R不适用

  三、重要事项

  无。